Show/Hide Menu
Hide/Show Apps
Logout
Türkçe
Türkçe
Search
Search
Login
Login
OpenMETU
OpenMETU
About
About
Open Science Policy
Open Science Policy
Open Access Guideline
Open Access Guideline
Postgraduate Thesis Guideline
Postgraduate Thesis Guideline
Communities & Collections
Communities & Collections
Help
Help
Frequently Asked Questions
Frequently Asked Questions
Guides
Guides
Thesis submission
Thesis submission
MS without thesis term project submission
MS without thesis term project submission
Publication submission with DOI
Publication submission with DOI
Publication submission
Publication submission
Supporting Information
Supporting Information
General Information
General Information
Copyright, Embargo and License
Copyright, Embargo and License
Contact us
Contact us
Radyasyon Basıncı ile Tahrik Edilen, Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskopisi (yd-AKM)
Date
2017-10-01
Author
Oral, Ahmet
Zaman, Sameena Shah
Metadata
Show full item record
This work is licensed under a
Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License
.
Item Usage Stats
147
views
0
downloads
Cite This
Bu projede radyasyon basıncı kullanılarak yayı titreştirerek yüzeye değmeden çalışan bir Atomik Kuvvet Mikroskobu(yd-AKM) Sistemi dünyada ilk olarak geliştirilmiş ve yüzeyde atomik çözünürlük dünyada ilk defa olmak üzere elde edilmiştir. Yayın sapmasını ölçen 1310nm dalgaboyundaki lazer'in akımı yayın rezonans frekansında modüle edilerek AKM yayına AC kuvvet, radyasyon basıncı sayesinde uygulanmaktadır. Aynı lazer yayın sapmasını da ölçecek şekilde çalışmaktadır. Ayrıca 1310nm ve 1550nm’de çalışan iki lazer kullanan bir fiber interferometre kartı da bu proje kapsamında geliştirilmiştir ve başarı ile denenmiştir. 1310nm lazeri ölçüm, 1550nm lazeri ise AKM yayını titreştirmek için kullanılmaktadır. Radyasyon tahrik mekanizması ile AKM yaylarının yay sabiti de direk ve hassas olarak ölçülebilmiştir.
Subject Keywords
Radyasyon basıncı
,
yüzeye değmeden Atomik Kuvvet Mikroskobu(yd-AKM)
URI
https://hdl.handle.net/11511/95878
Collections
Department of Physics, Project and Design
Suggestions
OpenMETU
Core
Düúük Titreúim Genli÷iyle ÇalÕúan Yüzeye De÷meden Atomik Kuvvet Mikroskobu ve TaramalÕ Tünelleme Mikroskobu'nda (YD-AKM/TTM) Elektrostatik Etkileúimlerin øncelenmesi
Oral, Ahmet(2014-08-19)
Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskobunda (YD-AKM) tek atom uçlu bir iğne ile yüzey arasındaki dikey kuvvetler ölçülerek yüzeyin atomik boyutta haritası çok yüksek vakum altında (p = 1E-10mbar) elde edilebilmektedir. Bu şekilde çalışan mikroskopların hemen hemen hepsi, cihazların kuvvet ölçme hassasiyeti yetersiz olduğundan, iğneyi yüksek genlikle titreştirerek ( A0 10 Å ) görüntü elde etmektedirler. Bizim daha önce geliştirdiğimiz YD-AKM çok düşük salınım genliği (A0~0.25Å) kullanarak aynı anda Taramalı ...
Numerical analysis of radio frequency inductively coupled ion thruster and computation of its performance parameters
Bozkurt, Erdal; Alemdaroğlu, Nafiz.; Department of Aerospace Engineering (2019)
The main goal of this thesis is geometric and parametric analysis of a simulated cylin-drical two-gridded Radio Frequency Inductively Coupled (RF-ICP) ion thruster. Inaddition, instrumental performance of this thruster and the effects of a fixed shapeof the electrodes on ion trajectories are investigated. The simulations of the plasmaand the ion optics are performed by using COMSOL Multiphysics software. The firststep is checking the reliability of the software. Radial and axial simulation parametricresults...
Crystallization and phase separation mechanism of silicon oxide thin films fabricated via electron beam evaporation of silicon monoxide
Gündüz, Deniz Cihan; Turan, Raşit; Yerci, Selçuk; Department of Micro and Nanotechnology (2015)
Silicon nanocrystals (NCs) imbedded in a matrix of silicon oxide have drawn much attention due to their applications in optoelectronic devices and third-generation solar cells. Several methods were reported for the fabrication of Si NCs. Among these techniques, there are aerosol synthesis, chemical vapor deposition, ion implantation, magnetron sputtering and thermal evaporation. However, electron beam evaporation is a straightforward and effective technique for the fabrication of silicon oxide thin films si...
Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer
Karagöz, Ercan; Oral, Ahmet; Department of Physics (2017)
In this study Non-Contact Atomic Force Microscope (NC-AFM) imaging was performed by excitation of the cantilever via radiation pressure in a custom Ultra-High Vacuum (UHV) system. Both the excitation of the cantilever and the measurement of the deflection of the cantilever were done by employing a fiber Fabry-Pérot interferometer obtained by a TiO2 coating of the fiber end. This coating allows for a several times higher interference slope. The second normal mode of the cantilever oscillation, along with the...
Applications in broadband THz spectroscopy towards material studies
Türkşen, Zeynep; Altan, Hakan; Department of Physics (2011)
The purpose of this work was to construct and analyze a THz time domain spectroscopy (THz-TDS) system by using a nanojoule energy per pulse ultrafast laser (non-amplified ultrafast laser or oscillator) source and a non-linear optical generation method for THz generation. First a THz-TDS system, which uses photoconductive antenna (PCA) method for THz generation, was built to understand the working principles of these types of systems. This THz-TDS system which used PCA for generation and a 2mm thick <110> Zn...
Citation Formats
IEEE
ACM
APA
CHICAGO
MLA
BibTeX
A. Oral and S. S. Zaman, “Radyasyon Basıncı ile Tahrik Edilen, Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskopisi (yd-AKM),” 2017. Accessed: 00, 2022. [Online]. Available: https://hdl.handle.net/11511/95878.