Radyasyon Basıncı ile Tahrik Edilen, Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskopisi (yd-AKM)

2017-10-01
Oral, Ahmet
Zaman, Sameena Shah
Bu projede radyasyon basıncı kullanılarak yayı titreştirerek yüzeye değmeden çalışan bir Atomik Kuvvet Mikroskobu(yd-AKM) Sistemi dünyada ilk olarak geliştirilmiş ve yüzeyde atomik çözünürlük dünyada ilk defa olmak üzere elde edilmiştir. Yayın sapmasını ölçen 1310nm dalgaboyundaki lazer'in akımı yayın rezonans frekansında modüle edilerek AKM yayına AC kuvvet, radyasyon basıncı sayesinde uygulanmaktadır. Aynı lazer yayın sapmasını da ölçecek şekilde çalışmaktadır. Ayrıca 1310nm ve 1550nm’de çalışan iki lazer kullanan bir fiber interferometre kartı da bu proje kapsamında geliştirilmiştir ve başarı ile denenmiştir. 1310nm lazeri ölçüm, 1550nm lazeri ise AKM yayını titreştirmek için kullanılmaktadır. Radyasyon tahrik mekanizması ile AKM yaylarının yay sabiti de direk ve hassas olarak ölçülebilmiştir.

Suggestions

Düúük Titreúim Genli÷iyle ÇalÕúan Yüzeye De÷meden Atomik Kuvvet Mikroskobu ve TaramalÕ Tünelleme Mikroskobu'nda (YD-AKM/TTM) Elektrostatik Etkileúimlerin øncelenmesi
Oral, Ahmet(2014-08-19)
Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskobunda (YD-AKM) tek atom uçlu bir iğne ile yüzey arasındaki dikey kuvvetler ölçülerek yüzeyin atomik boyutta haritası çok yüksek vakum altında (p = 1E-10mbar) elde edilebilmektedir. Bu şekilde çalışan mikroskopların hemen hemen hepsi, cihazların kuvvet ölçme hassasiyeti yetersiz olduğundan, iğneyi yüksek genlikle titreştirerek ( A0 10 Å ) görüntü elde etmektedirler. Bizim daha önce geliştirdiğimiz YD-AKM çok düşük salınım genliği (A0~0.25Å) kullanarak aynı anda Taramalı ...
Numerical analysis of radio frequency inductively coupled ion thruster and computation of its performance parameters
Bozkurt, Erdal; Alemdaroğlu, Nafiz.; Department of Aerospace Engineering (2019)
The main goal of this thesis is geometric and parametric analysis of a simulated cylin-drical two-gridded Radio Frequency Inductively Coupled (RF-ICP) ion thruster. Inaddition, instrumental performance of this thruster and the effects of a fixed shapeof the electrodes on ion trajectories are investigated. The simulations of the plasmaand the ion optics are performed by using COMSOL Multiphysics software. The firststep is checking the reliability of the software. Radial and axial simulation parametricresults...
Crystallization and phase separation mechanism of silicon oxide thin films fabricated via electron beam evaporation of silicon monoxide
Gündüz, Deniz Cihan; Turan, Raşit; Yerci, Selçuk; Department of Micro and Nanotechnology (2015)
Silicon nanocrystals (NCs) imbedded in a matrix of silicon oxide have drawn much attention due to their applications in optoelectronic devices and third-generation solar cells. Several methods were reported for the fabrication of Si NCs. Among these techniques, there are aerosol synthesis, chemical vapor deposition, ion implantation, magnetron sputtering and thermal evaporation. However, electron beam evaporation is a straightforward and effective technique for the fabrication of silicon oxide thin films si...
Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer
Karagöz, Ercan; Oral, Ahmet; Department of Physics (2017)
In this study Non-Contact Atomic Force Microscope (NC-AFM) imaging was performed by excitation of the cantilever via radiation pressure in a custom Ultra-High Vacuum (UHV) system. Both the excitation of the cantilever and the measurement of the deflection of the cantilever were done by employing a fiber Fabry-Pérot interferometer obtained by a TiO2 coating of the fiber end. This coating allows for a several times higher interference slope. The second normal mode of the cantilever oscillation, along with the...
Radyasyon Basıncı ile Tahrik Edilen Düşük Sıcaklık Atomik Kuvvet Mikroskopisi(DS-AKM) Geliştirilmesi
Oral, Ahmet(2018-12-31)
Bu projede radyasyon basıncı kullanılarak yayı titreştirerek 2-300K sıcaklık aralığında çalışan bir Atomik Kuvvet Mikroskobu(DS-AKM) sistemi dünyada ilk olarak geliştirilecektir. Yayın sapmasını ölçen lazer'in DC ışık şiddeti ve lazer akımı yayın rezonans frekansında modüle edilerek AKM yayına DC ve AC kuvvet, radyasyon basıncı sayesinde uygulanacaktır. Bu mikroskop nanometre çözünürlükle 2-300K sıcaklık aralığında çalışacaktır. Radyasyon tahrik mekanizması ile AKM yaylarının yay sabiti de direk olarak ölçü...
Citation Formats
A. Oral and S. S. Zaman, “Radyasyon Basıncı ile Tahrik Edilen, Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskopisi (yd-AKM),” 2017. Accessed: 00, 2022. [Online]. Available: https://hdl.handle.net/11511/95878.