Düúük Titreúim Genli÷iyle ÇalÕúan Yüzeye De÷meden Atomik Kuvvet Mikroskobu ve TaramalÕ Tünelleme Mikroskobu'nda (YD-AKM/TTM) Elektrostatik Etkileúimlerin øncelenmesi

Date

2014-08-19

Author

Oral, Ahmet

Metadata

Show full item record

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.

Item Usage Stats

134
views

0
downloads

Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskobunda (YD-AKM) tek atom uçlu bir iğne ile yüzey arasındaki dikey kuvvetler ölçülerek yüzeyin atomik boyutta haritası çok yüksek vakum altında (p = 1E-10mbar) elde edilebilmektedir. Bu şekilde çalışan mikroskopların hemen hemen hepsi, cihazların kuvvet ölçme hassasiyeti yetersiz olduğundan, iğneyi yüksek genlikle titreştirerek ( A0 10 Å ) görüntü elde etmektedirler. Bizim daha önce geliştirdiğimiz YD-AKM çok düşük salınım genliği (A0~0.25Å) kullanarak aynı anda Taramalı Tünelleme Mikroskobu (TTM) olarak da atomik çözünürlük sağlamakta, ayrıca iğne-yüzey arası atomsal kuvvetleri doğrudan ölçerek ?Kuvvet Spektroskopi? yapmamıza imkan vermektedir. Bu projede, iğne ile yüzey arasındaki elektrostatik etkileşimler çok düşük salınım genliği kullanarak Yüzeye Değmeden çalışan bir Atomik Kuvvet Mikroskobu (YD-AKM) kullanılarak incelenecektir. Geliştirdiğimiz bu Mikroskop aynı anda Taramalı Tünelleme Mikroskobu(TTM) olarak da çalışabildiğinden, degişik uç-yüzey gerilimlerinde aynı anda TTM ve yd-AKM görüntüleri TiO2 gibi seramiklerde ve Silikon kristalinin değişik yüzeylerinde elde edilecektir. Sonuçlar TTM ve AKM?nda çok sık görülen kontrast değişiminin nedenleri karşılaştırmalı olarak incelenebilecektir. Eğer projemiz başarıya ulaşırsa, nanoteknoloji ve nanobilimin en önemli unsurlarından olan bu mikroskopların sonuçlarının ve elektrik alanı ile atomik seviyede yüzey manipülasyonun daha iyi anlaşılmasına öncülük edecektir.

Subject Keywords

TaramalÕ Tünelleme Mikroskobu (TTM), Yüzeye De÷meyen-Atomik Kuvvet Mikroskobu (YD-AKM), Elektrostatik etkileúimler

URI

https://hdl.handle.net/11511/95870

Collections

Department of Physics, Project and Design

Suggestions

OpenMETU
Core

Radyasyon Basıncı ile Tahrik Edilen, Yüzeye Değmeden Atomik Kuvvet Mikroskopisi (yd-AKM) Oral, Ahmet; Zaman, Sameena Shah(2017-10-01) Bu projede radyasyon basıncı kullanılarak yayı titreştirerek yüzeye değmeden çalışan bir Atomik Kuvvet Mikroskobu(yd-AKM) Sistemi dünyada ilk olarak geliştirilmiş ve yüzeyde atomik çözünürlük dünyada ilk defa olmak üzere elde edilmiştir. Yayın sapmasını ölçen 1310nm dalgaboyundaki lazer'in akımı yayın rezonans frekansında modüle edilerek AKM yayına AC kuvvet, radyasyon basıncı sayesinde uygulanmaktadır. Aynı lazer yayın sapmasını da ölçecek şekilde çalışmaktadır. Ayrıca 1310nm ve 1550nm’de çalışan iki lazer...
Optically stimulated luminescence studies on natural fluorites Kuşoğlu Sarıkaya, Cemre; Bulur, Enver; Department of Physics (2011) Optically Stimulated Luminescence (OSL) is the luminescence emitted from a previously irradiated insulator (or a wide band gap semiconductor) upon exposure to light. The OSL signal intensity is a function of the radiation dose absorbed by the sample and thus can be used as the basis of a radiation dosimetry method. In the literature, OSL studies on natural fluorites are rather limited. In order to promote the material for radiation dosimetry, OSL properties of natural fluorites of different origin were exam...
Non-contact atomic force microscope in ultra high vacuum using radiation pressure excitation of cantilever with Fabry-Perot interferometer Karagöz, Ercan; Oral, Ahmet; Department of Physics (2017) In this study Non-Contact Atomic Force Microscope (NC-AFM) imaging was performed by excitation of the cantilever via radiation pressure in a custom Ultra-High Vacuum (UHV) system. Both the excitation of the cantilever and the measurement of the deflection of the cantilever were done by employing a fiber Fabry-Pérot interferometer obtained by a TiO2 coating of the fiber end. This coating allows for a several times higher interference slope. The second normal mode of the cantilever oscillation, along with the...
Investigation of the structural properties of low dimensional nanostructures : molecular dynamics simulations Özdamar, Burak; Erkoç, Şakir; Department of Physics (2013) This study aims to investigate the structural and thermodynamic properties of nanostructures which are generated from different atoms and geometries. The nanostructures in question are boron nitride nanoparticles, silicon nanowires along with sawtooth-like graphene nanoribbons. The goal is to calculate the specific heat values of boron nitride nanoparticles while the mechanical properties of the other nanostructures are investigated under uniaxial strain. The structural behaviors of these generated nanopart...
Tuning the electron beam evaporation parameters for the production of hole and electron transport layers for perovskite solar cells Coşar, Mustafa Bura; Özenbaş, Ahmet Macit; Department of Metallurgical and Materials Engineering (2019) This study evaluates the use of electron beam evaporation technique for the deposition of electron and hole transport layers for perovskite solar cells where cell productions were performed in n-i-p structure. NiO and TiO layers were studied for hole transport layer and TiO2 and Nb2O5 layers were deposited for electron transport purposes. To optimize the suitable evaporation parameters for efficient perovskite cell production, single layers of each material were deposited at different conditions of oxygen f...

Citation Formats

A. Oral, “Düúük Titreúim Genli÷iyle ÇalÕúan Yüzeye De÷meden Atomik Kuvvet Mikroskobu ve TaramalÕ Tünelleme Mikroskobu’nda (YD-AKM/TTM) Elektrostatik Etkileúimlerin øncelenmesi,” 2014. Accessed: 00, 2022. [Online]. Available: https://hdl.handle.net/11511/95870.