Hide/Show Apps

İkincil iyon kütle spektrometresinin geliştirilmesi

Bu çalışmada amacımız, elimizde bulunan elektron impact kuadropol ( El ) kütle spektrometresini ikincil iyon kütle spetrometresine (secondary ion mass spectrometry, SIMS) dönüştürmektir. Bu amaçla bir ikincil iyon tüfeği ( secondary ion gun) satın alınmıştır. İyon tüfeğini kütle spektrometresine birleştirmek için gerekli vakum bağlantıları ve bir katı örnek hücre ünitesi tasarlanmış ve maklna atölyelerinde yaptırılmıştır. Yapılan değişikliklerin gerektiği zaman elektron impact konumuna kısa sürede dönüştürülmesine olanak sağlıyacak şekilde olmasına dikkat edilmiştir. Sistem bi'rleştirildikten sonra ilk aşamada mekanik ve elektronik bağlantılar test edilmiştir. Argon gazı birincil iyon' kaynağı olarak kullanılmıştır. İkinci aşamada, çalışma şartları en yüksek ikincil iyon verimi elde etmeye olanak verecek şekilde optimize edilmiştir. Çalışmanın son aşamasında , çeşitli metal ve polimer örneklerden elde edilen ikincil iyon kütle spektumlar literatür verileriyle karşılaştırmıştır. Geliştirilen ve optimize edilen sistemin katı örneklerin kimyasal kompozisyonu ve karakterizasyonunu belirlemekte başarıyla uygulanabileceği gösterilmiştir.